ICT原理(lǐ)介绍：

一.隔离 ( Guarding )原理(lǐ)

隔离為(wèi)ICT量测很(hěn)重要的一种应用(yòng)技术，乃是将待测零件相连接的零件给予隔离，使待测零件的量测不受影响，如下图所示，应用(yòng)运算放大器设计之電(diàn)压随耦器，使输出電(diàn)压 ( VG )与其输入電(diàn)压 ( VA )相等，及运算放大器之两输入端间虚地 ( Virtual Ground )的原理(lǐ)，使得与待测零件相连的零件之两端同電(diàn)位，而不会产生分(fēn)流来影响待测零件的量测，如同是已将将待测零件相连接的零件给予隔离。

经由隔离之实施后，流经R1的電(diàn)流几近零，不致影响R之量测。

由于VG=VA，因此I3=0

所以R1=V/I1

隔离 ( Guarding )基本原理(lǐ)图

定電(diàn)流测量法

如下图所示，為(wèi)被使用(yòng)测量大電(diàn)阻的测量法，乃是应用(yòng)欧姆定律 ( Ohm’s Law )：R = V / I，提供定電(diàn)流源至待测電(diàn)阻，再由其两端所量测之電(diàn)压值，来计算待测電(diàn)阻之阻值。

定電(diàn)流/電(diàn)压测量法

如下图所示，為(wèi)常被使用(yòng)之電(diàn)阻的测量法，乃是应用(yòng)反相放大器 ( Inverting Amplifier )原理(lǐ)：Vo = -Vi * Rf / R，计算出待测電(diàn)阻Rdut= -Vi * Rf / Vi。

二.電(diàn)容器的测试原理(lǐ)
 

如上图所示应用(yòng)运算放大器 ( OPA )之反相放大原理(lǐ)：Vo = -V * R / Xc，其中Xc =1/ ( 2pfC )乃電(diàn)容所产生的電(diàn)抗，f為(wèi)交流定電(diàn)压的频率，再以角加速度『w = 2pf』来代表，则可(kě)由公式：C ＝ -Vo / ( V * w * R )，来计算出電(diàn)容之值

 定電(diàn)流测量 ( MODE C )

当電(diàn)容值為(wèi)10uF以上时，计算机会自动设定DC電(diàn)容量测法。此法是用(yòng)DC定電(diàn)流来使待测電(diàn)容充電(diàn)，然后由充電(diàn)的时间可(kě)算出電(diàn)容值

如上图所示由于在充電(diàn)電(diàn)压与其充電(diàn)时间成線(xiàn)性关系，故可(kě)由其斜率，来计算出待测電(diàn)容之值。

三.電(diàn)感器的测试原理(lǐ)



如上图所示应用(yòng)运算放大器 ( OPA )之反相放大原理(lǐ)：Vo = -V * R / XL，其中XL = ( 2pfL )乃電(diàn)感所产生的電(diàn)抗，f為(wèi)交流定電(diàn)压的频率，再以角加速度『w = 2pf』来代表，则可(kě)由公式：L ＝- V * R  / (w * V0 )，来计算出電(diàn)感之值。

四.普通二极管的测试方法 (MODE D)

二极管采用(yòng)如下图所示之顺向電(diàn)压测量法，来辨别二极管的好坏，正常的硅 ( Silicon )二极管之顺向電(diàn)压约為(wèi)0.7V，而锗 ( Germanium )二极管之顺向電(diàn)压约為(wèi)0.3V。

五.晶體(tǐ)管的测量原理(lǐ) ( 三端点 ) ( MODE TR )

晶體(tǐ)管的测量方法如下图从晶體(tǐ)管的基极 ( Base )送脉波電(diàn)压，由于晶體(tǐ)管工作于饱和状态 ( Saturation Status )时集极与射极之间所测量的電(diàn)压 ( Vce )会小(xiǎo)于0.2V以下，因此可(kě)藉之来辨别晶體(tǐ)管的好坏。

六.短/开路的测试原理(lǐ) ( Open/Short Test )

學(xué)习短路表 ( Learning Short Pin Group Table )

短／开路 (  Open/Short ) 的测试数据可(kě)由學(xué)习一个良品的電(diàn)路板而得。当學(xué)习时，计算机会测量任意两个测试点 ( Test point )之间的阻值，然后产生一个短路表 ( Short Pin Group Table )，學(xué)习时，任意两点间的阻值小(xiǎo)于20Ω(初使值)即被判定两点间為(wèi)短路，否则為(wèi)开路。

短/开路测试

短／开路测试是根据上述短路表的资料来做测试；先做短路测试 ( Short Test )再做断路测试 ( Open Test )，说明如下 ：

开路测试是测试在同一短路群 ( Short Pin Group )里的每一测试点间 ( Test point )是否有(yǒu)断路现象，判别开路的基准阻值是80Ω(初使值)；也就是说任意二点间的阻值如果大于80Ω(初使值)，则被判定為(wèi)开路错误 ( Open Fail )。

短路测试是测试任意一短路群的测试点和其它短路群的测试点之间，是否有(yǒu)短路现象，判别短路的基准是5Ω(初使值)；也就是说，如果任意两点间的阻值是小(xiǎo)于5Ω(初使值)，则被判定為(wèi)短路错误 ( Short Fail )。